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Coauteurs
Asuman OzdaglarEECS, MITAdresse e-mail validée de mit.edu
Aryan MokhtariAssistant Professor, ECE, University of Texas at AustinAdresse e-mail validée de austin.utexas.edu
Mert GürbüzbalabanRutgers UniversityAdresse e-mail validée de business.rutgers.edu
Necdet Serhat AybatIndustrial Engineering, Penn State UniversityAdresse e-mail validée de psu.edu
Sarath PattathilMITAdresse e-mail validée de mit.edu
Julien FageotEPFLAdresse e-mail validée de epfl.ch
Ali MakhdoumiFuqua School of BusinessAdresse e-mail validée de duke.edu
azarakhsh malekianRotman School of ManagementAdresse e-mail validée de mit.edu
Daron AcemogluEconomics, MITAdresse e-mail validée de MIT.edu
Michael UnserProfessor, Biomedical Imaging Group, Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL), SwitzerlandAdresse e-mail validée de epfl.ch
Kunal TalwarApple IncAdresse e-mail validée de apple.com
John DuchiAssociate Professor of Statistics and Electrical Engineering, Stanford UniversityAdresse e-mail validée de stanford.edu
Hilal AsiStanford UniversityAdresse e-mail validée de stanford.edu
Lingjiong ZhuFlorida State UniversityAdresse e-mail validée de fsu.edu
Umut SimsekliINRIA - École Normale SupérieureAdresse e-mail validée de inria.fr
Andrea GiomettoCornell University, School of Civil and Environmental EngineeringAdresse e-mail validée de cornell.edu
Francesca PariseAssistant Professor, ECE, Cornell UniversityAdresse e-mail validée de cornell.edu
Kristian GeorgievMITAdresse e-mail validée de mit.edu
Yonina EldarMath and Computer Science, WeizmannAdresse e-mail validée de weizmann.ac.il
Farzan FarniaAssistant Professor, Chinese University of Hong KongAdresse e-mail validée de cuhk.edu.hk