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Coauteurs
- Frédéric OverneyMETASAdresse e-mail validée de metas.ch
- Luca CallegaroINRIM - Istituto Nazionale di Ricerca MetrologicaAdresse e-mail validée de inrim.it
- Stephen RussekNISTAdresse e-mail validée de nist.gov
- Baumann HenriMetrology InstituteAdresse e-mail validée de metas.ch
- Jonathan M WilliamsNational Physical LaboratoryAdresse e-mail validée de npl.co.uk
- Philippe FlückigerDirector of Operations, EPFLAdresse e-mail validée de epfl.ch
- Michel CalameHead of Laboratory, Empa & Prof. of Nanoscience, University of BaselAdresse e-mail validée de empa.ch
- Kishan Thodkar2HS AGAdresse e-mail validée de one-graphene.com
- Christian SchoenenbergerDepartment of Physics and Swiss Nanoscience Institute of University of BaselAdresse e-mail validée de unibas.ch
- Hansjoerg SchererPhysikalisch-Technische BundesanstaltAdresse e-mail validée de ptb.de
- Clark HamiltonNISTAdresse e-mail validée de vmetrix.com
- Mark W. KellerPhysicist, National Institute of Standards and TechnologyAdresse e-mail validée de nist.gov
- Pierre GournayBureau International des Poids et MesuresAdresse e-mail validée de bipm.org
- Martina MarzanoResearcher, Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica (INRiM), Torino, ItalyAdresse e-mail validée de inrim.it
- Stéphane SolveBIPMAdresse e-mail validée de bipm.org
- Martin ŠíraCzech Metrology InstituteAdresse e-mail validée de cmi.cz
- Felix Meliformer head of length, nano- and microtechnologyAdresse e-mail validée de metas.ch
- Rudolf ThalmannHead of sector, Federal Institute of Metrology METASAdresse e-mail validée de metas.ch
- Alain KüngSwiss Federal Institute of Metrology METASAdresse e-mail validée de metas.ch
- Nicolas WyrschEcole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)Adresse e-mail validée de epfl.ch