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Coauteurs
- David J. LoveNick Trbovich Professor of ECE, Purdue UniversityAdresse e-mail validée de ecn.purdue.edu
- Boon Loong NgSamsung Research AmericaAdresse e-mail validée de samsung.com
- Peshal NayakEngineer, Technology StandardizationAdresse e-mail validée de samsung.com
- Vishnu V RatnamStaff Research Engineer 2, Samsung Research AmericaAdresse e-mail validée de samsung.com
- Gilwon LeeSamsung Research America, Plano, TXAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jeongho JeonSamsung Research America, MV, CAAdresse e-mail validée de samsung.com
- James KrogmeierElectrical and Computer Engineering, Purdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Hao ChenSamsung Research AmericaAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jing GuoPurdue UniversityAdresse e-mail validée de purdue.edu
- Gary XuSamsung Research AmericaAdresse e-mail validée de samsung.com
- Joonyoung ChoSamsung Research AmericaAdresse e-mail validée de samsung.com
- Jin YuanSamsung Research America - DallasAdresse e-mail validée de samsung.com
- Younsun KimSamsungAdresse e-mail validée de samsung.com
- Taejoon KimProfessor of EECS, The University of KansasAdresse e-mail validée de ku.edu
- Young Han NamSamsungAdresse e-mail validée de samsung.com
- Junil ChoiTenured Associate Professor of KAIST, School of Electrical EngineeringAdresse e-mail validée de kaist.ac.kr
- Thomas MarzettaDistinguished Industry Professor, Department of Electrical and Computer Engineering, New YorkAdresse e-mail validée de nyu.edu
- Ameya AgaskarResearch Scientist, Amazon AlexaAdresse e-mail validée de post.harvard.edu
- Mohamed El GamalCairo University, Faculty of EngineeringAdresse e-mail validée de aucegypt.edu
- Mohamed FoudaNorthwestern UniversityAdresse e-mail validée de u.northwestern.edu