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Coauteurs
- Kailash GopalakrishnanIBMAdresse e-mail validée de us.ibm.com
- Naigang WangIBM T. J. Watson Research Center (nwang@us.ibm.com)Adresse e-mail validée de us.ibm.com
- Nuo XuTSMC; Samsung; IMEC; Synopsys; UC BerkeleyAdresse e-mail validée de eecs.berkeley.edu
- Jinfeng Kang北京大学集成电路学院教授Adresse e-mail validée de pku.edu.cn
- Clement Mercklingimec / KU LeuvenAdresse e-mail validée de imec.be
- Jungwook ChoiHanyang UniversityAdresse e-mail validée de hanyang.ac.kr
- Xiaodong CuiPrincipal Research Scientist, IBM T. J. Watson Research CenterAdresse e-mail validée de us.ibm.com
- Swagath VenkataramaniResearch Staff Member, IBM T.J. Watson Research Center / Purdue Univ.Adresse e-mail validée de ibm.com
- K.S. Chang-LiaoNational Tsing Hua UniversityAdresse e-mail validée de ess.nthu.edu.tw
- Tomás PalaciosMITAdresse e-mail validée de mit.edu
- Enxia ZhangUniversity of Central FloridaAdresse e-mail validée de ucf.edu
- Alireza AlianimecAdresse e-mail validée de imec.be
- Guy BrammertzResearcher, imec-imomecAdresse e-mail validée de imec.be
- Zuoguang LiuIBM Thomas J. Watson Research CenterAdresse e-mail validée de us.ibm.com
- Yuhao ZhangCPES, Virginia TechAdresse e-mail validée de vt.edu