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Coauteurs
- Seong-Lyun KimSchool of EEE, Yonsei UniversityAdresse e-mail validée de yonsei.ac.kr
- Kaibin HuangProfessor and Head, Dept. of EEE, University of Hong Kong; IEEE Fellow; ISI Highly Cited ResearcherAdresse e-mail validée de eee.hku.hk
- Kaifeng HanChina Academy of Information and Communications TechnologyAdresse e-mail validée de caict.ac.cn
- Hyukjin ChaeApple Inc.Adresse e-mail validée de apple.com
- Jihong ParkLecturer, Deakin University, SMIEEEAdresse e-mail validée de deakin.edu.au
- Seung Min YuKorea Railroad Research Institute (KRRI)Adresse e-mail validée de krri.re.kr
- Haejoon JungKyung Hee UniversityAdresse e-mail validée de khu.ac.kr
- Bennis MehdiFull Professor, IEEE Fellow, Head of ICON, University of OuluAdresse e-mail validée de oulu.fi
- Sejin SeoYonsei UniversityAdresse e-mail validée de ramo.yonsei.ac.kr
- Hyesung KimSamsung ResearchAdresse e-mail validée de samsung.com
- 서동욱, Dong-Wook Seo, D.-W. SeoAssociate Professor, Korea Maritime & Ocean UniversityAdresse e-mail validée de kmou.ac.kr
- Byoung-Hoon KimLG ElectronicsAdresse e-mail validée de lge.com
- Kyuwon HanYonsei University, Department of Electrical and Electronic EngineeringAdresse e-mail validée de ramo.yonsei.ac.kr
- Guangxu ZHUShenzhen Research Institute of Big DataAdresse e-mail validée de sribd.cn
- Zezhong ZhangResearch Assistant Professor, The Chinese University of Hong Kong (Shenzhen)Adresse e-mail validée de cuhk.edu.cn
- Chan-Byoung ChaeUnderwood Distinguished Professor, Yonsei University, IEEE FellowAdresse e-mail validée de yonsei.ac.kr
- Soo-Min KimSamsung Research, Samsung Electronics, SeoulAdresse e-mail validée de samsung.com
- Taehyoung ShimETRI (Electronics and Telecommunications Research Institute)Adresse e-mail validée de etri.re.kr
- Min Soo SimQualcomm Technologies, Inc.Adresse e-mail validée de qti.qualcomm.com
- Sang Won ChoiKyonggi UniversityAdresse e-mail validée de kyonggi.ac.kr
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Seung-Woo Ko
Associate Professor, Inha University
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