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Coauteurs
- Juergen BruggerProfessor of Microengineering (EPFL)Adresse e-mail validée de epfl.ch
- Christian BergaudCNRS Researcher, LAAS, University of Toulouse, FranceAdresse e-mail validée de laas.fr
- Ikjoo ByunSamsung ElectronicsAdresse e-mail validée de samsung.com
- Sebastian VolzCNRS - University of TokyoAdresse e-mail validée de iis.u-tokyo.ac.jp
- Jose Ordonez-MirandaCNRS Full Researcher, University of TokyoAdresse e-mail validée de iis.u-tokyo.ac.jp
- Jacques FattaccioliEcole Normale Supérieure, Sorbonne Université, CNRSAdresse e-mail validée de ens.psl.eu
- Jurriaan Huskensprofessor of supramolecular chemistry, University of TwenteAdresse e-mail validée de utwente.nl
- Arum HanProfessor of Texas A&M UniversityAdresse e-mail validée de ece.tamu.edu
- Benjamin SamsonInstitut Langevin, EspciAdresse e-mail validée de espci.fr
- Lionel BuchaillotIEMN UMR8520Adresse e-mail validée de univ-lille.fr
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Beomjoon Kim
The University of Tokyo, Institute of Industrial Science
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