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Coauteurs
- Feng XiongAssistant Professor, Department of Electrical and Computer Engineering, University of PittsburghAdresse e-mail validée de pitt.edu
- Eric PopPease-Ye Professor of Electrical Eng., Materials Science, Applied Physics, Stanford and SLACAdresse e-mail validée de stanford.edu
- Ashkan BehnamDevice Engineer, MicronAdresse e-mail validée de micron.com
- Rob CandlerUniversity of California, Los AngelesAdresse e-mail validée de g.ucla.edu
- Albert LiaoEmerging Memory Engineer, MicronAdresse e-mail validée de micron.com
- Myung-Ho BaeKorea Research Institute of Standards and Science, mhbae@kriss.re.krAdresse e-mail validée de kriss.re.kr
- Daniele IelminiProfessor of ElectronicsAdresse e-mail validée de elet.polimi.it
- Enrico PiccininiARCES Università di BolognaAdresse e-mail validée de unimore.it
- Sanchit DeshmukhPhD, Stanford UniversityAdresse e-mail validée de alumni.stanford.edu
- Feifei LianStanford UniversityAdresse e-mail validée de stanford.edu